Электронный каталог Фундаментальной библиотеки ННГУ им. Н.И. Лобачевского

Максимов Г. А.
Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии. Описание лабораторной работы : учебно-методическое пособие / Г. А. Максимов, Д. Е. Николичев, М. В. Канышина ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Физический факультет. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2002. - 38 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В данной лабораторной работе рассматриваются физические основы метода Оже-спектроскопии и его применение для определения элементного состава поверхности полупроводниковых гетероструктур SixGe1-x/Ge.

Регистрационный номер: 62.03.05

Дата регистрации: 27.01.2003

Филатов Дмитрий Олегович.
Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ) : описание лабораторной работы / Д. О. Филатов, А. В. Круглов, В. В. Левичев ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2003. - 32 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В данной лабораторной работе рассматриваются принципы работы ближнепольного сканирующего оптического микроскопа (БСОМ) и его применение для исследования оптических свойств твердых тел.

Регистрационный номер: 72.04.05

Дата регистрации: 05.01.2004

Филатов Дмитрий Олегович.
Исследование топографии поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме : Описание лабораторной работы : учебно-методическое пособие / Д. О. Филатов, А. В. Круглов, Ю. Ю. Гущина ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2003. - 23 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии.

Регистрационный номер: 63.03.05

Дата регистрации: 27.01.2003

Ершов Алексей Валентинович.
Получение многослойных оптических покрытий методом электронно-лучевого испарения. Лабораторный практикум для магистров : учебно-методическое пособие / А. В. Ершов, А. И. Машин ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2007. - 36 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Практикум включает в себя: теоретическое изучение физических принципов работы многослойных интерференционных покрытий, их назначение и классификация, требования к оптическим покрытиям; практическое освоение методов расчета и проектирования многослойных интерференционных покрытий; практическое освоение технологических приемов и навыков получения многослойных интерференционных оптических покрытий; практическое освоение методик спектрофотометрических измерений параметров сформированных покрытий; анализ полученных результатов, оформление отчетов о проделанной работе.

Регистрационный номер: 158.07.05

Дата регистрации: 19.09.2007

Панкрушина А. М.
Психология и педагогика : сценарии, задания, вопросы к семинарским занятиям : практикум / А. М. Панкрушина, В. М. Соколов ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2009. - 81 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Предлагаемые в пособии сюжеты, небольшие задания и вопросы делятся на два раздела – блок психологии, который в свою очередь делится на психологию познания и психологию личности, и блок педагогики.

Регистрационный номер: 209.09.05

Дата регистрации: 03.04.2009

Вычисление блоховских функций электрона в одномерном периодическом потенциале : учебно-методическое пособие / М. В. Денисенко, А. С. Деребенко, С. М. Кашин, А. М. Сатанин ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2010. - 33 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Пособие посвящено изложению оригинального метода численного решения уравнения Шредингера для электрона, движущегося в одномерном периодическом потенциале. Суть метода состоит в сведении расчета блоховской функции и дисперсионных кривых к задаче рассеяния на элементарной ячейке, которая решается с использованием устойчивой численной процедуры. Приведен алгоритм и программа численного расчета, которая тестируется на примере точно решаемой модели.

Регистрационный номер: 269.10.05

Дата регистрации: 14.12.2010

Филатов Дмитрий Олегович.
Физика твердотельных наноструктур : комплекс лабораторных работ / Д. О. Филатов ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2010. - 63 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В комплекс лабораторных работ вошли лабораторные работы повышенного уровня по физике полупроводниковых квантоворазмерных гетероструктур и полупроводниковых инжекционных лазеров на их основе. Целью этих работ является изучение отдельных вопросов физики твердотельных наноструктур и методик исследования электрофизических, оптических и фотоэлектрических свойств квантоворазмерных полупроводниковых гетероструктур, а также определения параметров полупроводниковых лазеров с квантоворазмерной активной областью.

Регистрационный номер: 315.11.05

Дата регистрации: 12.01.2011

Николичев Дмитрий Евгеньевич.
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии : учебно-методическое пособие / Д. Е. Николичев, А. В. Боряков ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2011. - 110 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Рассматриваются физические основы методов электронной оже-спектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым расширением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников.

Регистрационный номер: 405.12.05

Дата регистрации: 20.01.2012

Дорохин Михаил Владимирович.
Гальваномагнитные и оптические методы исследования полупроводниковых наноструктур : учебно-методическое пособие / М. В. Дорохин, А. В. Кудрин ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2012. - 80 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В учебно-методическом пособии рассмотрены основные виды приборов на спин-зависимых эффектах, материалы, наиболее часто используемые для их изготовления. Описаны основные методы исследования полупроводниковых приборов, а также дополнительные методы исследования спин-зависимых характеристик. Рассмотрены основные гальваномагнитные явления в твердых телах (эффект Холла) и особенности их проявления в ферромагнитных материалах. Описаны возможные реализации экспериментальных исследований эффекта Холла и магнетосопротивления в ферромагнитных металлических и полупроводниковых наноструктурах. Описаны основные подходы и методики измерений циркулярной поляризации электролюминесценции в светоизлучающих диодах на основе ферромагнитных наноструктур. Рассмотрены возможности совместного исследования гальваномагнитных эффектов и люминесценции в полупроводниковых ферромагнитных квантово-размерных структурах с целью комплексного анализа их свойств на примере гетероструктур InGaAs/GaAs/GaMnAs. Электронное учебно-методическое пособие предназначено для студентов ННГУ, обучающихся по направлению подготовки 210100 «Электроника и наноэлектроника», изучающих курс «Спинтроника», и по направлению 210100.62 «Электроника и наноэлектроника», изучающих курс «Материалы и методы нанотехнологии»

Регистрационный номер: 504.12.05

Дата регистрации: 01.11.2012

Дорохин Михаил Владимирович.
Диод Шоттки на основе GaAs: технология получения и диагностика : учебно-методическое пособие / М. В. Дорохин, А. В. Здоровейщев ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2013. - 75 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Описаны основные свойства контактов металл/полупроводник, образующих барьер Шоттки. Рассмотрены методы измерений и расчёта характеристик диода Шоттки. Изложены основы технологии формирования контактов металл/полупроводник для Si и GaAs, рассмотрены основные методы формирования контактов. Приведено описание вакуумных методов, в том числе, метода электронно-лучевого испарения. Предложено выполнение практической работы по формированию и исследованию диода Шоттки. Для студентов старших курсов, специализирующихся по направлению 210600 «Нанотехнология», студентов магистратуры и аспирантов, слушающих курсы в области наноэлектроники и ведущих исследования в соответствующей области.

Регистрационный номер: 669.14.05

Дата регистрации: 13.02.2014

Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС : учебно-методическое пособие / Д. Е. Николичев, А. В. Боряков, С. И. Суродин, Р. Н. Крюков ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2013. - 50 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Рассмотрены методы интерпретации фотоэлектронных спектров. Описана методика проведения количественного химического анализа методом РФЭС совместно с ионным профилированием структур с нанометровыми слоями. Приведены примеры анализа состава наноструктур на основе оксида кремния и спинтронных систем на основе арсенида галлия Для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по специальностям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника" и 210100 – "Электроника и наноэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур"

Регистрационный номер: 614.13.05

Дата регистрации: 03.10.2013

Николичев Дмитрий Евгеньевич.
Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие / Д. Е. Николичев, А. В. Боряков, С. И. Суродин ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2014. - 73 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Рассмотрены методы интерпретации фотоэлектронных спектров. Описана методика проведения количественного химического анализа методом РФЭС совместно с ионным профилированием структур с нанометровыми слоями. Приведены примеры анализа состава наноструктур на основе оксида кремния и спинтронных систем на основе арсенида галлия Для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по специальностям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника" и 210100 – "Электроника и наноэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур"

Регистрационный номер: 665.14.05

Дата регистрации: 13.02.2014

Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия : учебно-методическое пособие / А. В. Пирогов, Н. В. Малехонова, А. И. Бобров [и др.] ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2014. - 73 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Данное пособие предназначается для студентов старших курсов, специализирующихся по направлениям «210100 – электроника и наноэлектроника» и «222900 – нанотехнологии и микросистемная техника», а также для аспирантов обучающихся по специальности «01.04.07 – физика конденсированного состояния». Оно будет частью практических занятий по дисциплине «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», в рамках которой студентами старших курсов изучаются различные микроскопические и аналитические методы анализа наноструктур. В том числе и метод энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии. Практическая часть работы будет осуществляться на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F (JEOL, Япония) с помощью энергодисперсионного спектрометра на основе безазотного детектора Х-Мах компании Oxford instruments, смонтированного на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F. Поскольку просвечивающий электронный микроскоп и ЭДС детектор требует высокой квалификации, студентам необходимо будет ознакомиться с основами его устройства данного оборудования и разобраться в физике процессов, протекающих во время эксперимента, чтобы иметь возможность грамотно объяснить полученные результаты

Регистрационный номер: 670.14.05

Дата регистрации: 13.02.2014

Планкина Светлана Михайловна.
Определение параметров полупроводника из температурной зависимости удельного сопротивления и эффекта Холла : практикум / С. М. Планкина, А. В. Кудрин ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2014. - 17 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Данная работа является частью лабораторного практикума по курсу "Физика полупроводников". В ней изложены основы статистики электронов и дырок, описана методика определения из измерения электропроводности и эффекта Холла основных параметров полупроводника - ширины запрещенной зоны, концентрации и подвижности носителей. Практикум предназначен для студентов старших курсов физического факультета ННГУ, обучающихся по направлениям 210100 – Электроника и наноэлектроника и 222900 – Нанотехнологии и микросистемная техника.

Регистрационный номер: 780.14.05

Дата регистрации: 23.09.2014

Филатов Дмитрий Олегович.
Метод баллистической электронной эмиссионной микроскопии/спектроскопии для изучения морфологии и электронных свойств полупроводниковых наноструктур : учебно-методическое пособие / Д. О. Филатов, М. А. Исаков ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2014. - 26 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В пособии рассмотрена баллистическая электронная эмиссионная микроскопия, которая является одним из высокоразрешающих нанозондовых методов исследования структурных и электронных свойств полупроводниковых структур с барьерами Шоттки и структур металл-диэлектрик-полупроводник. Приведены рекомендации к изготовлению оборудования для измерений с помощью этого метода, в частности, приставки для сканирующего зондового микроскопа НТ-МДТ® SolverPro™, реализующей возможность диагностики полупроводниковых наноструктур методом баллистической электронной эмиссионной микроскопии/спектроскопии. Пособие предназначено для студентов очной формы обучения по направлениям 210100 – “Электроника и наноэлектроника” и 222900 – “Нанотехнология и микросистемная техника”.

Регистрационный номер: 801.14.05

Дата регистрации: 22.10.2014

Измерение и анализ электрофизических характеристик мемристорных структур : учебно-методическое пособие / О. Н. Горшков, С. В. Тихов, М. Н. Коряжкина [и др.] ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2015. - 31 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Целью учебно-методического пособия является освоение методики измерения и анализа электрофизических характеристик современных приборных структур микроэлектроники и наноэлектроники – мемристорных структур металл-диэлектрик-металл. Учебно-методическое пособие предназначено для бакалавров, магистров и аспирантов, выполняющих научную работу и обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 – “Электроника и наноэлектроника”, 28.03.01 – “Нанотехнологии и микроэлектроника”, 11.04.04 – “Электроника и наноэлектроника” и 11.06.01 – “Электроника, радиотехника и системы связи”.

Регистрационный номер: 1091.15.05

Дата регистрации: 21.12.2015

Кудрин Алексей Владимирович.
Аномальный эффект холла : практикум / А. В. Кудрин, Ю. А. Данилов ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2017. - 16 с. - Текст : электронный.

Аннотация: В работе прорабатывается и закрепляется материал соответствующего раздела курса лекций «Спинтроника»: описаны основы экспериментального метода исследования аномального эффекта Холла и основы методики анализа экспериментальных зависимостей. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника».

Регистрационный номер: 1504.17.05

Дата регистрации: 30.05.2017

Особенности электрофизических характеристик мемристивных структур на основе диоксида кремния : учебно-методическое пособие / А. Н. Михайлов, А. И. Белов, Д. И. Тетельбаум [и др.] ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Институт экономики и предпринимательства. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2017. - 39 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Целью учебно-методического пособия является освоение методики измерения и анализа электрофизических характеристик современных приборных структур микроэлектроники и наноэлектроники – мемристивных структур металл-диэлектрик-металл.

Регистрационный номер: 1348.17.05

Дата регистрации: 26.01.2017

Ежевский Александр Александрович.
Исследование спиновой релаксации носителей тока в полупроводниках : лабораторный практикум по курсу «Основы спинтроники» (описание к лабораторной работе) / А. А. Ежевский ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2018. - 30 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Настоящее описание предназначено для студентов старших курсов физического факультета ННГУ, обучающихся по направлению подготовки: 11.04.04 Электроника и наноэлектроника; Направленности (профили): твердотельная электроника и наноэлектроника

Регистрационный номер: 2167.19.05

Дата регистрации: 15.01.2019

Ежевский Александр Александрович.
Определение плотности волновой функции локализованного электрона на ядре донора на основе исследования сверхтонких расщеплений спектров ЭПР : лабораторный практикум по курсу «Магнитные резонансы в твёрдых телах» (описание к лабораторной работе) / А. А. Ежевский ; ННГУ им. Н. И. Лобачевского, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники. - Нижний Новгород : Изд-во ННГУ, 2018. - 15 с. - Текст : электронный.

Аннотация: Настоящее описание предназначено для студентов старших курсов физического факультета ННГУ, обучающихся по направлению подготовки: 11.04.04 Электроника и наноэлектроника; Направленности (профили): твердотельная электроника и наноэлектроника

Регистрационный номер: 2168.19.05

Дата регистрации: 15.01.2019